Специалисты-профессионалы в области техники, технологии, не вошедшие в другие начальные группы

Постоянная

Одна смена

1

Информационные технологии, телекоммуникации, связь

5600,00– 5700,00 руб.

1,0

Разовые премии к праздникам и юбилейным датам

г. Минск, р-н Ленинский, пр-кт Партизанский, д.2, к.2-31, 220033

Высшее

5

- разработка алгоритмов автоматической верификации топологических структур СБИС, представленных метализированными масками оригиналов топологии на фотошаблонах; - разработка алгоритмов компенсации погрешностей координатных систем, построенных на базе линейных двигателей с интерферометрическими системами в плече обратной связи; - разработка систем автоматического детектирования и анализа дефектов топологии СБИС на фотошаблонах и на полурпроводниковых пластинах; - участие в пуско-наладочных работах и приёмосдаточных испытаниях на территории заказчика, сопровождение работы установок в период гарантийного и сервисного обслуживания; - оптимизация работы программного обеспечения под технологические процессы заказчика.

- опыт в области разработки, наладки и внедрения у заказчика оптико-механического и лазерно-оптического оборудования для автоматического контроля топологии фотошаблонов и полупроводных пластин; - знание стандартов SEMI в области контроля и классификации дефектов фотошаблонов; - знание стандартов SEMI, регламентирующих поведенческую модель оборудования для производства фотошаблонов и интерфейс взаимодействия с системой управления верхнего уровня (GEM/SECS); - знание форматов описания топологических структур СБИС (например МК-1, Т-29); - знание С++ на высоком уровне, среда разработки: Builder. Visual Studio; - умение работать с программным обеспечением для конвертации файлов САПР (GDS II, OASYS и др.) в форматы специального технологического оборудования; - знание технологических процессов формирования топологических структур методом фотолитографии.

- знание следующих методов автоматического контроля топологии:Die-To-Die - метод сравнения топологии кристаллов СБИС;Die-To-Database - метод сравнения топологии фотошаблона с проектными данными;STARLight - метод анализа суммированного изображения, полученного в проходящем и отраженном свете.